ZEISS/蔡司Axiolab5智能顯微鏡

ZEISS/蔡司Axiolab5智能顯微鏡在舒適的操作條件下進行可靠的微觀結構和材料缺陷分析。從三種Axiolab5主機型號中為您的應用選擇合適的配置：反射光照明和/或透射光照明；用于正交偏光和錐光觀察的Axiolab5.

介紹

舒適的操作條件下進行可靠的微觀結構和材料缺陷分析

從三種Axiolab5主機架中為您的應用選擇合適的配置：反射光照明和/或透射光照明；用于無畸變和錐光觀察的Axiolab5。

在金相學中，Axiolab5廣泛應用于高樣品的檢測。在結構檢測時，可以分析金屬的微觀結構和晶粒大小或者捕獲導致材料缺陷的相關機理信息，例如：疲勞度、腐蝕、應力裂紋和裂縫。使用130至1200萬像素的數(shù)碼相機記錄檢測結果。

偏光觀察方式可以在法醫(yī)檢測樣品時用于表征頭發(fā)、泥土和纖維微觀的結構。使用明場、熒光和偏光顯微技術分析噴漆和油漆碎片。如果您是一名地質學家，則可以使用該儀器檢測巖石切面和礦物樣品，例如：用于石油開采。在環(huán)境保護應用中，它還能夠用于辨識諸如石棉纖維材料的微觀結構。

系統(tǒng)

單機
無需使用計算機即可成像和記錄數(shù)據(jù)

通過與蔡司Axiocam208color相結合，蔡司Axiolab5可獨立于計算機系統(tǒng)運行。

蔡司Labscope

用于互聯(lián)環(huán)境中常規(guī)成像

對于互聯(lián)的顯微鏡而言，將蔡司Axiolab5與蔡司Labscope成像應用程序結合操作可達到理想效果，尤其適用于教育領域。

蔡司ZENcore

高級應用

使用蔡司ZENcore成像軟件控制蔡司Axiolab5智能顯微鏡完成高級成像和分析任務。

特點

•4位反射光轉盤選擇微觀結構檢測的更佳觀察方式。借助壓按模塊增加其他觀察方式。

•主機架內置有50W鹵素燈和電源。另外，LED光源具有恒定的色溫、低功耗和超長使用壽命特點。

•Axiolab5便于操作，只需一只手便可操控主要部件。
•以舒服的坐姿研究非常細微的結構，并記錄每種材料缺陷，即便長時間使用也不會感到疲勞。

•選擇適合于無畸變或錐光觀察的主機架以偏光觀察方式檢測雙折射材料。

•用于偏光顯微觀察的Axiolab5配有中心定位式4位物鏡轉盤。

優(yōu)勢

輕松執(zhí)行數(shù)字化數(shù)據(jù)記錄

找到感興趣區(qū)域后，只需按下顯微鏡主機兩側的拍照按鈕，即可獲得圖像，操作簡單便捷。您甚至無需移動手的位置即可控制顯微鏡及其連接的相機，同時可以始終專注于樣品。

輕松完成實驗室檢測工作

Axiolab5易于操作且符合人體工程學的設計理念，使其成為實驗室日常工作的好幫手。只需單手便可操作主要控件，包括拍照按鈕、載物臺移動手柄、調焦旋鈕和亮度調節(jié)。

更經(jīng)濟、更可靠

使用Axiolab5還無需額外購置計算機和軟件，可以節(jié)省實驗室空間和成本。通過運用智能顯微鏡功能，無論由專家級、還是非專家級用戶操作Axiolab5，皆可確保在短時間內獲得可靠的數(shù)據(jù)。

智能顯微鏡設計理念

優(yōu)化工作流程，助您提高工作效率

與蔡司顯微數(shù)碼相機Axiocam208color結合使用，能充分發(fā)揮單機版智能顯微成像解決方案的優(yōu)勢。數(shù)字化數(shù)據(jù)記錄是系統(tǒng)設計的一部分：只需按下符合人體工程學的拍照按鈕，即可輕松完成。自動完成白平衡、曝光時間和圖像增強功能等相機參數(shù)設置。無需額外使用成像軟件或計算機，便可完成以下操作：

·       直接拍攝圖像和錄制視頻

·       通過屏幕顯示器，使用鼠標和鍵盤（可選）操控相機

·       保存設置

·       存儲圖像以及顯微鏡和相機的所有元數(shù)據(jù)和比例尺信息

·       預定義圖像名稱或重命名圖像

只需按下按鈕，即可進行圖像采集和數(shù)據(jù)記錄—無需釋放其他控件（如焦距驅動旋鈕）

偏光

多用途偏光檢測

•Axiolab5是一款多用途偏光顯微鏡，可用于地質學、礦物學、化石燃料資源的勘探等應用。

•它能夠解決折射率、分裂、雙折射、消光角、光程差及光軸數(shù)量和角度的相關問題。

•可以使用測量補償器擴展其應用范圍。選擇固定式和旋轉式補償器來拍攝大小光程差，以及測定纖維狀物質的光學特性。360°旋轉式載物臺則用于測量分裂和消光角。

•適用于錐光觀察的主機架展現(xiàn)了檢偏器和Bertrand透鏡的出色結合。當Bertrand透鏡轉入光路時，這種邏輯機械耦合可以保證檢偏器轉至操作位置。

應用案例

金相學

典型的任務與應用

·       確定晶粒尺寸、結構、分布和相。

·       快速執(zhí)行現(xiàn)場分析。

·       材料失效分析研究：疲勞、腐蝕、蠕變變形、應力裂紋或斷裂。

鑄鐵，反射光，明場，ECEPIPLAN20×/0.4

鑄鐵，反射光，暗場，ECEPIPLAN20×/0.4

彩色蝕刻鋼，反射光，明場，ECEPIPLAN20×/0.4

彩色蝕刻鋼，反射光，暗場，ECEPIPLAN20×/0.4

數(shù)據(jù)記錄

典型的任務與應用

·       高通量材料檢驗和記錄

·       來料檢驗

·       可用于發(fā)布的高品質成像

·       失效分析

·       過程質量監(jiān)測

電子器件貼片電阻：可用于記錄印刷和接觸表面的質量。ECEPIPLAN5×/0.13

透明塑料件上的注塑標識字母，ECEPIPLAN5×/0.13

雕刻用銑削標記，ECEPIPLAN5×/0.13

激光結構金屬件，ECEPIPLAN5×/0.13

樣品制備

典型的任務與應用

·       監(jiān)控樣品制備過程。

·       快速瀏覽微觀圖像的情況。是否仍可使用？是否需要更換樣品？

·       樣品制備過程中的質量監(jiān)控。鑲嵌是否符合質量要求?

嵌入樹脂中的彩色蝕刻鋼。檢查鑲嵌質量。ECEPIPLAN10×/0.25

球墨鑄鐵。存在腐蝕和石墨球破裂的區(qū)域，表明需要更換樣品。

礦物學

典型的任務與應用

·       檢查巖石和礦物的薄片，以確定其成分。

·       對各向異性材料進行分類，如方解石、橄欖石、鈦石或鋯石。

·       能夠解決折射率、解理、雙折射、消光角、光程差及光軸數(shù)量和角度的相關問題。

花崗巖內的黑云母，透射光，明場，ECPlan-NEOFLUAR10×/0.3Pol

花崗巖內的黑云母，透射光，正交偏光（帶Lambda片），ECPlan-NEOFLUAR10×/0.3Pol

螢石，透射光，明場，ECPlan-NEOFLUAR5×/0.16Pol

螢石，透射光，正交偏光（帶Lambda片），ECPlan-NEOFLUAR5×/0.16Pol