二氧化碳露點(diǎn)測試方法有很多，從目前國內(nèi)市場上的產(chǎn)品分類來看主要可以分為國標(biāo)方法和非國標(biāo)方法兩大類，主要使用的是新材料技術(shù)、微波技術(shù)、光纖技術(shù)、納米技術(shù)、光電技術(shù)、紅外技術(shù)、微電子技術(shù)、聲波技術(shù)等，它們都是可以作為二氧化碳水分測定儀用來檢測二氧化碳?xì)怏w中微量水分露點(diǎn)溫度值的。 二氧化碳微量水分國標(biāo)測量方法：
1、電解法
國標(biāo)號(hào)：GB/T 5832.1-2016 氣體濕度的測定 第1部分:電解法
優(yōu)缺點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn)為測量量程可達(dá)-80℃以下，且精度較好；缺點(diǎn)為電解池氣路需要在使用前干燥很長時(shí)間，且對(duì)氣體的腐蝕性及清潔性要求較高
2、露點(diǎn)法
國標(biāo)號(hào)：GB/T 5832.2-2016氣體分析　微量水分的測定　第2部分：露點(diǎn)法
優(yōu)缺點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn)為精度高，尤其在采用半導(dǎo)體制冷和光電檢測技術(shù)后，不確定度甚至可達(dá)0.1℃；缺點(diǎn)為響應(yīng)速度較慢，尤其在露點(diǎn)-60℃以下，平衡時(shí)間甚至達(dá)幾個(gè)小時(shí)，而且此方法對(duì)樣氣的清潔性和腐蝕性要求也較高，否則會(huì)影響光電檢測效果或產(chǎn)生‘偽結(jié)露’造成測量誤差
3、光腔衰蕩光譜法
國標(biāo)號(hào)：GB/T 5832.3-2011 氣體中微量水分的測定 第3部分：光腔衰蕩光譜法
優(yōu)缺點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn)為可以檢測出0.2ppb~20ppm極微量水分含量；缺點(diǎn)為不適用于含水量較高的氣體露點(diǎn)檢測
4、石英晶體振蕩法
國標(biāo)號(hào)：GB/T 5832.4-2020 氣體分析 微量水分的測定 第4部分：石英晶體振蕩法
優(yōu)缺點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn)為適用性較為廣泛，不僅能夠測量單一高純氣體的水分含量，而且可以檢測混合氣體中的露點(diǎn)溫度值；缺點(diǎn)為技術(shù)不太成熟，精度較差且成本很高。
 
以贏潤集團(tuán)研發(fā)生產(chǎn)的ERUN-PG7190便攜式氣體水分露點(diǎn)分析儀和ERUN-PG919T氣體微量水分露點(diǎn)在線分析儀為例，分別適用于隨身攜帶方便快速移動(dòng)測量和固定安裝連續(xù)實(shí)時(shí)在線監(jiān)測氣體的微量水分露點(diǎn)溫度值的工況場所，支持顯示露點(diǎn)溫度Td、溫度T、相對(duì)濕度RH、水分體積濃度ppmv、水分質(zhì)量濃度g/m3等。 工業(yè)級(jí)二氧化碳露點(diǎn)微量水分檢測儀技術(shù)參數(shù)：
產(chǎn)品型號(hào)：ERUN-QZ919T（在線式）、ERUN-PG7190（便攜式）
露點(diǎn)范圍：-80℃～+20℃（可選量程：-100～+20℃）
溫度范圍：-40℃～+100℃
濕度范圍：0~100%RH
精度誤差：±2℃Td、±0.1℃、±0.8RH%
顯示項(xiàng)目：Td、T、RH、ppmv、g/m3
數(shù)據(jù)傳輸：4-20 mA、0-1V、0-5V、0-10V（在線式）、USB（便攜式）
 
二氧化碳微水露點(diǎn)儀采用基于阻容法的全新材料的高分子薄膜傳感器技術(shù)，創(chuàng)新的溫度補(bǔ)償算法及出廠前多點(diǎn)溫度的補(bǔ)償校驗(yàn)，以及自動(dòng)加熱功能，同時(shí)具備高低濕度測量功能，抗冷凝、抗污染能力出色，超快的響應(yīng)速度及出色的長期穩(wěn)定性。
 
以上就是關(guān)于二氧化碳露點(diǎn)測試方法的相關(guān)介紹，國家標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于氣體水分露點(diǎn)測量的方法主要包括電解法、露點(diǎn)法、光腔衰蕩光譜法、石英晶體振蕩法等，除此之外，二氧化碳水分測定儀的測定方法還包括重量法、振動(dòng)頻率法、冷鏡法、阻容法、電傳感器法、紅外法、半導(dǎo)體法等，由于二氧化碳中含水量一般較大且與水易發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生產(chǎn)碳酸，所以使用阻容法較為合適，詳情可咨詢贏潤集團(tuán)工作人員。